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透過型電子顕微鏡システム
分析透過型電子顕微鏡
?細胞を形成するナノスケールオーダの物質の構造解析のため、分解能は粒子像0.3nm以下、格子像0.1nm。
?高倍率?高解像度（2K×2K）と広範囲（1K×1.3K）のDualCCDカメラで観察可能。
?傾斜試料ホルダー使用でTEM及びSTEM像の3次元立体画像取得と解析可能。
?生体構成元素分析（ホウ素からウラン）までの範囲可能。
?高角度環状検出器（HAADF）を備え、Zコントラストによる暗視野像観察可能。
?凍結薄切試料観察可能。
?損失エネルギー（EELS）による数nmオーダの局所元素分析、軽元素分析、化学結合状態解析が可能。
| 規格 | 日本電子 JEM-2100F |
|---|---|
| 利用料金（円） | 非営利組織：1,400/時間 営利組織 ：4,800/時間 |
汎用透過型電子顕微鏡
?分解能は粒子像0.38nm格子像、0.2nm。
?低倍から高倍まで高コントラストで高品質な像が得られます。
?デジタルCCDカメラ（Gatan社）。
?3次元立体画像取得と解析可能。
| 規格 | 日本電子 JEM-1400 |
|---|---|
| 利用料金（円） | 非営利組織：1,400/時間 営利組織 ：4,800/時間 |
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